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論文

Stability of ▽T$$_{e}$$-driven microscopic drift-tearing mode

伊藤 公孝; 伊藤 早苗*

Journal of the Physical Society of Japan, 51(5), p.1639 - 1643, 1982/00

https://doi.org/10.1143/JPSJ.51.1639
 被引用回数：0 パーセンタイル：0.01(Physics, Multidisciplinary)

エネルギー依存性を持つ電子-イオン衝突周波数のモデルを用い、短波長のドリフトテアリングモードの安定性を解析した。電子温度勾配が存在すると、1≦V/W$$ast$$≦20程度の衝突周波数の領域で、磁気シアの存在にもかかわらず、このモードは不安定になり得る。プラズマ圧力については、不安定化のための下限及び上限があって、中間程度の$$beta$$値で不安定性があらわれる。代表的なプラズマパラメータでは、$$beta$$値が10%程度のときに安定となる。

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